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Thermo-optic effect exploitation in Silicon microstructures
1998-01-01 G., Cocorullo; F. G., DELLA CORTE; I., Rendina; P. M., Sarro; DELLA CORTE, Francesco Giuseppe
A V2O5/4H-SiC Schottky diode-based PTAT sensor operating in a wide range of bias currents
2018-01-01 Rao, Sandro; Pangallo, Giovanni; Di Benedetto, Luigi; Rubino, Alfredo; Domenico Licciardo, Gian; DELLA CORTE, Francesco Giuseppe
Titolo | Data di pubblicazione | Autore(i) | File |
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Thermo-optic effect exploitation in Silicon microstructures | 1-gen-1998 | G., Cocorullo; F. G., DELLA CORTE; I., Rendina; P. M., Sarro; DELLA CORTE, Francesco Giuseppe | |
A V2O5/4H-SiC Schottky diode-based PTAT sensor operating in a wide range of bias currents | 1-gen-2018 | Rao, Sandro; Pangallo, Giovanni; Di Benedetto, Luigi; Rubino, Alfredo; Domenico Licciardo, Gian; DELLA CORTE, Francesco Giuseppe |
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